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ガイドライン適合フロー

step
A
初回ミーティング 該当製品に適切な過程・手順を、顧客の要望を考慮しながら説明。弊社あるいは顧客側へ出向いての打ち合わせでは、製品のカタログ、ブロック・回路図等の情報をもとに約3〜4時間必要。
顧客の準備段階、適合度によっては、step Bの技術ミーティングや事前検査と一緒に実施することも可能。
step
B
技術ミーティング 危険分析や適合過程で必要となる具体的な回路設計上での適合・不適合に対する対応や、適合確認のための試験方法に関する具体的説明。顧客先担当設計エンジニアの方とともに、通常顧客側で実施。例えば沿面・空間距離、重要部品内の認定品・リストアップ部品・サブアセンブリ等の使用方法、安全制御回路設計、EMC(電磁波)対策、SEMIに関しては人間工学詳細、等。
step
C
事前検査ミーティング 通常の稼動状態における対象製品のプロトタイプや類似品あるいは対象製品を、目視により該当規格やガイドラインに適合しているかを検査。また、EMC対策検証、簡単な構造検査を含む。重要部品の各種認定書内の適合内容やデータも合わせて査定。結果や不適合点は、すべて具体的対応方法を推奨した英日文の報告書としてCTITより提出。
step
D
三者間技術ミーティング すべての不適合点を解決する際に、多くの場合、対象製品内で使用してい重要部品の非認定品に対する適合を達成する必要がある。弊社の経験から効率的で最短な方法が、CTIT、機械・機器製造者、部品やサブアセンブリ・メーカ間の三者で実施する三者間技術ミーティング。この他、不適合個所のレベルや解決難易度によっても希望に応じた適合支援方法での対応が可能。
step
E
最終試験・査定 不適合個所改善後、完成品に電気、機械、火災における安全性や電磁波EMI、EMSにおけるレベルを試験し適合を確認する。該当する規制に対し適合宣言が出来ると共に将来も有効となる十分な適合データ・結果を導く査定・試験実施。査定・試験後分かりやすい日本語で「結果概要」を発行。長い経験と実績に裏づけられた英文書式に基づき最終試験報告書を発行。
step
F
変更 再審査 万一 step Eの最終試験・査定で不適合・不合格となった際には、再度変更の上、通常は文書で確認。再試験は特に必要ない。
step
G
文書作成 適合を証明する試験データや技術構造ファイル・技術ファイル・ANNEX I レポート・適合宣言書(CEマーク)や査定報告書(SEMI)等の作成。必要な場合はそれらの翻訳文書作成。対象機の将来的変更申請や類似機種適合証明もすべてできる限り追加試験等が発生せず、文書での処理が可能となるような弊社の文書作成でコストは最小限に。自己宣言によるCEマーキングのサポート、弊社からの各種証明書やプロダクト・マーク発行だけでなく、他の第三者機関からの各認定も弊社を介して顧客の状況や製品の種類・適合条件・適合レベルを考慮し、最適・最短な方法で対応。適合達成後も責任を持ってフォロー・アップ。
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